テュフ ラインランド ジャパンは、半導体プロセス装置メーカーおよび産業機器メーカー向けにオンサイトにおける「電圧サグイミュニティ試験」と「電圧ディップ/短時間停電試験」の両サービスを開始します。
必須要求事項となりつつあるSEMI F47やEMC指令で要求されるEN/IEC 61000-4-11/-34、KCマークで要求されるKS C 9610-6-2:2019への新試験サービスです。
1. 電圧サグイミュニティ ( SEMI F47 ) 試験 ( サグ試験 )
SEMI F47は、半導体プロセス装置向けのEMCについて定めた規格で、電圧サグイミュニティ ( 瞬時電圧低下に対する耐性 ) について規定しています。半導体工場内における負荷変動によるAC入力電源の電圧降下を模擬し、その時の供試品 ( EUT ) のイミュニティ耐性を評価する試験です。
被試験デバイス ( EUT )
試験機器は、単相、三相AC480 V, 200Aまでの装置に対応しています。
お客様先の工場でオンサイト試験をお受けいたしますので、ご希望の試験場所を指定ください。
2. 電圧ディップ ( ディップ試験 ) / 短時間停電試験
停電や電力系統故障などの影響で発生する短時間の電圧変動でEUTへの悪影響がないかを評価するイミュニティ耐性評価試験です。
今後EMC指令で要求される産業機器の一般イミュニティ試験規格EN IEC 61000-6-2:2019においては16A/相を超える入力電流定格をもつEUTに対しても、AC入力電源の電圧降下を模擬する電圧ディップ / 短時間停電 ( Voltage Dip/Interruption ) 試験 ( EN/IEC 61000-4-11/-34 ) が要求されます。
また、KCマークで要求される産業機器の一般イミュニティ試験規格KS C 9610-6-2:2019 ( IEC 61000-6-2:2016相当 ) での電圧ディップ / 短時間停電 ( Voltage Dip/Interruption ) 試験にも対応しています。
お問い合わせ：カスタマーサービス（TEL: 045-470-1850 E-Mail: info@jpn.tuv.com）
更新日 : 9/6/2022